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塑料包装袋厚度测量仪
塑料包装袋厚度测量仪
基于光学干涉原理的测量仪则充满了科技感，它利用光的反射、折射等特性来计算薄膜厚度。当一束光照射到塑料包装袋薄膜上时，部分光在薄膜表面反射，部分光透过薄膜并在底面反射回来，两束光相遇就会产生干涉现象 。由于薄膜的折射率不同，两束光在薄膜中行进的路径长也不同，因此会产生相位差，这个相位差就决定了干涉的强度 。通过分析干涉图案或干涉条纹，就可以计算出薄膜的厚度 。
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刘远山
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