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真空衰减泄漏测试仪
真空衰减泄漏测试仪
核心优势剖析
高精度检测
真空衰减泄漏测试仪配备了先进的高精度 CCIT 测试技术，能够精准地检测到极其微小的泄漏孔。即使是直径仅为微米级别的细微漏洞，也难以逃过它的 “法眼"。在对精密电子元件的密封检测中，这些元件内部结构复杂，对密封性要求，一个微小的泄漏都可能导致电子元件的性能下降甚至失效 。真空衰减泄漏测试仪凭借其高精度的检测能力，能够准确地检测出电子元件外壳上的微小泄漏点，确保产品的质量和可靠性 ，有效保障了产品包装的完整性，为产品的质量提供了坚实的保障。
无损检测特性
无损检测是真空衰减泄漏测试仪的一大显著优势。与传统的一些检测方法不同，它在检测过程中不会对被测物体造成任何形式的破坏。无论是易碎的玻璃制品，还是柔软的塑料包装，又或是表面带有特殊涂层的产品，它都能在不损伤被测物的前提下完成检测工作 。这一特性使得经过检测的产品仍然可以继续正常使用或进入销售环节，大大降低了检测成本和资源浪费 。以食品行业为例，对各类包装食品进行密封性检测时，使用真空衰减泄漏测试仪既能确保食品包装的密封性符合标准，又不会破坏食品的包装和内容物，保证了食品的新鲜度和安全性，让消费者能够放心购买和食用 。
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刘远山
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